产品特性:CAMTEK | 加工定制:是 | 品牌:CAMTEK |
型号:CAMTEK 自动光学检测 | 用途:CMOS传感器阵列,LED良率监测,MEMS特殊结构监测,TSV | 别名:自动AOI |
规格:自动AOI |
CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用
公司概述
Camtek是一个***的开发商和制造商的高端半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括前道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是最苛刻的半导体市场,包括***互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务***的全球IDMs OSATs和铸造厂。
性能:Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的最终产品。***的包装技术的增长,已被证明是最***解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速高效地帮助他们满足最严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。
创新:Camtek创新使得它的技术领导人检验和计量在半导体领域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供的资本投资。
响应性:本地团队在每一个领域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的领域升级包安装设备。
CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用
碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。
功能
?处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
?背光查克的早期阶段的过程
?朋友处理透明的晶片
?eef——边缘控制能力
?自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
?弓测量
?预测收益率-晶圆缺陷位置精度<2um
技术
?sts -表面形貌传感器
?背光
产品
EagleT-AP
为***的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。
EagleT-i
设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和最***的2 d检查工具在市场上。