| 产品特性：Bruker | 是否进口：否 | 产地：德国 |
| 加工定制：是 | 品牌：Bruker | 型号：NPFLEX 三维表面测量系统 |
| 订货号：111 | 货号：1111 | 测量范围：对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全方位非接触式测量方案，样品 |
| 测量精度：0.01nm | 尺寸：60*60mm | 重量：200kg |
| 是否跨境货源：否 |
NPFLEX 三维表面测量系统
针对大样品设计的非接触测试分析系统
灵活测量大尺寸样品，满足高难度测量角度的***测量高效的三维表面信息测量
垂直方向纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据，测试过程迅速高效
NPFLEX
为大尺寸工件精密加工提供准确测量工具 航空发动机叶片涂层
布鲁克的NP TM 3D表面测量系统为精密制造业带来***的检测性能，实现更快的试产扩量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供了诸多***的优点，远超通常接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术所能 提供的。这些测量优势包括高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样品测量仪器设计的经验，NP TM 是***个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。
其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度
? 创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大（高达 330 毫米）、形状更多
? 开放式龙门、定制的夹具和可选的旋转测量头可轻松测量待测部位
高效的三维表面信息测量
? 每次测量均可获取整个表面高度信息，用于各种分析
? 更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向纳米分辨率提供更多的细节
? 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
? 工***使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障
测量数据的快速获取***了测试的迅速和高效
? 最少的样品准备时间和测量准备时间
? 比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据
测量不同尺寸、规格的样品，操作灵活，***高效
通常情况下，测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时，往往花费较长的时间对样品进行切割处理， 才可进行测量。如今，开发出新型的NP TM测量系统，拥有超大测量空间，可测13英寸（330毫米，这种创新 性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的旋转测量头可轻松测量 样品待测部位。开放式结构与Bruker的专利光学镜头，实现了***工作距离下获得理想的数值孔径。这使得NP TM
善于测量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的样品。
***品质，坚如磐石
NPFLEXTM 整体设计坚固耐用，大理石机台可以承受最重高达 170 磅（77 千克）的样品。龙门架设计可以隔绝来至工厂地面的噪音，集成的气浮平台使得仪器能在微小尺度下保持良好重复性。物镜保护系统能在各个方 向防止物镜和样品碰撞。在实验过程中，使用 NPFLEXTM，对于样品大小，取样过程以及实验环境的要求，都相对宽松很多，使得实验可以灵活简便的完成，帮助生产者获得产品性质的精密数据。
